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研究称手机缺陷或致脑癌，无害论是一面之词

［李远赛迪网更新时间：2009/8/27 ］热 ★★★

　　8月27日消息国际电磁辐射调查机构日前向政府递交的文件表明，手机的设计中存在的缺陷可能导致对用户大脑的损害。

　　报告的结论表明：“手机用户有显著的脑癌风险。”在此之前的无害言论，完全基于政府和产业的一面之词，建立在EMR毫无生物影响的前提下。而手机设计的缺陷确实有可能对用户的健康造成损害。

　　

　　

　　

　　

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